NIST SRM 2000 高分辨率 X 射线衍射（标准品） 为高分辨率 X 射线衍射 (HRXRD) 社区提供了国际单位制 (SI) [1] 可追溯的 Si (220) 透射间距、表面到晶面晶片我们的参考波长在反射中的误切和表面到硅 (004) 布拉格角。 SRM 2000 的一个单元由 25 mm × 25 mm × 0.725 mm 双抛光 (100) 取向的单晶硅样品组成，具有标称 50 nm Si0.85Ge0.15 外延层和 25 nm 硅帽。

这些认证值可用于校准 HRXRD 仪器。

认证到期：

SRM 2000 的认证在规定的不确定性范围内无限期有效，前提是按照本证书中给出的说明处理和储存 SRM（参见“处理、储存和使用说明”）。因此，不需要定期重新校准或重新认证此 SRM。如果 SRM 损坏、污染或以其他方式修改，则认证无效。

SRM 认证的维护：

NIST 将在其认证期间监控此 SRM。如果发生影响认证的实质性技术变化，NIST 将通知购买者。注册（见附表）将有助于此通知。